案例分享：不良现象为样品功能测试不良。

   经电性测试发现其中有两个PIN存在Short现象，实验室分别对样品进行了X-ray,开封和SEM观察发现样品内部晶元表面存在多处EOS烧伤痕迹。

图1：X-ray检测没有发现打线断开，短路等异常

图2：将样品开封后发现晶元表面有多处EOS烧伤痕迹，以上图箭头所指放大图为例.