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技术文章
  • 现场评审资料准备简介

    2018年04月09日

    现场评审是紧张而忙碌的,提前做好充足的准备工作,忙而不乱是大家的目标。本人结合多次现场评审经验,将现场评审时需准备的资料总结如下(适用于CMA和CNAS)

  • IEC和EN标准的区别是什么?

    2018年04月02日

    IEC和EN标准的区别是什么?

  • 金相显微镜与扫描电子显微镜的性能比较

    2018年03月26日

    金相显微镜和扫描电子显微镜都是一般实验室常用的仪器,在微观领域的失效分析观察起到重大作用。

  • 实验室认可准则对设备标签的要求与示例

    2018年03月19日

    实验室认可准则对设备标签的要求

  • 一种渐薄型孔无铜原因分析

    2018年03月19日

    孔金属化是PCB制程中最重要的工序,本文就一种渐薄类型的孔无铜表现形态、成因及解决方案谈一点个人理解和认识。

  • 内审员需要的能力和素质

    2018年03月12日

    内审员在内部审核中具有关键作用,作为最高管理层必须充分认识到这一点。内审员的标准其实不亚于外审员,甚至比外审员要求更高,他们是推动企业质量管理体系有效运行和保持的源泉。内部审核的成功,很大程度上取决于内审员是否能正确理解过程方法,是否能准确把握标准要求,是否具有发现问题的能力,这些都来源于优秀内审员丰富的工作经历、专业知识和人格魅力。

  • 如何防护射线?

    2018年03月12日

    X线穿透人体将产生一定的生物效应。若接触的X线量过多,超过容许曝射量,就可能产生放射反应,甚至产生一定程度的放射损害。但是,如X线曝射量在容许范围内,一般影响极小。人们不必因为辐射而拒绝必要的X光和CT检查,更不必为此连医院的放射科的区域都不敢进。

  • 修正值/修正因子你正确使用了吗?

    2018年03月12日

    为修正某一测量器具的示值误差等系统误差而在其检定/校准证书上注明(或根据检定/校准结果计算得出)的与未修正测量结果相乘的因子。

  • 巧用微蚀,观察真相

    2018年03月01日

    切片在研磨过程中,因受磨料切削力的影响而产生形变,细磨可以去除粗磨中的形变,而抛光的主要作用是消除细磨过程中的形变。而材料都具有延展性,虽然抛光可以去除变形,但是也阻止不了材料的延展,例如PCB,抛光完根本看不出铜线路到底有几层铜。这个时候就需要通过微蚀来去除最表面的铜从而将真正的结构显现出来。

  • 晶须的产生机理及其抑制技术简介

    2018年03月01日

    晶须易发生在Sn、Zn、Cd和Ag等低熔点金属表面,其有不同的形式,如柱状、针状、线状、毛发状、分岔状、小丘状等,如图1所示,对产品的质量影响最大的是柱状和针状,因为他们最容易导致电路短路。

  • 常见白色led灯光谱范围介绍

    2018年02月05日

    LED灯是一块电致发光的半导体材料芯片,用银胶或白胶固化到支架上,然后用银线或金线连接芯片和电路板,四周用环氧树脂密封,起到保护内部芯线的作用,最后安装外壳,所以 LED 灯的抗震性能好。

  • SEM、EDS检测中的镀膜技术

    2018年01月29日

    SEM、EDS测试中为什么要镀膜?因为非导电样品绝缘电阻大,在电子束的连续扫描下,样品表面逐渐积累负电荷,形成相当大的高的负电场,排斥入射电子,二次电子发射不稳定,并随机偏转二次电子轨迹影响探测器接受,造成图像晃动、亮度突变、出现无规则的明暗条纹,这就是所谓的“荷电效应”,也称“充电效应”。

  • 质量控制中如何使用加标回收

    2018年01月29日

    加标回收份为两种方式:空白加标回收和样品加标回收。

  • 标准物质期间核查

    2018年01月15日

    什么情况下需要对标准物质期间核查特别注意 (1)期间核查作为有效的预防措施,控制实验室的质量; (2)标物使用频率高; (3)标物性状不稳定; (4)标物储存环境条件发生变化时(如电磁干扰、温度、湿度、不受实验室控制后返回等); (5)怀疑标物受污染时; (6)检测项目争议大,结果受质疑时; (7)临近失效或以过使用有效期仍将使用的标物。

  • 影响扫描电镜(SEM)的几大要素

    2018年01月15日

    扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

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